企业简介
上海星纳电子科技有限公司，是一家国内专攻半导体测试领域厂商，专门设计、研发、生产高精度无接触式的测试设备以及解决方案。人员配置方面几乎都是在半导体行业有着极其丰富的测试经验（十年以上）的专家和技师，其中不乏美国ADE的测试专家和技术工程师。我们的设备关键部件全部采用纯进口，以保证我们的测试精度和稳定性。自主开发的软件，更加体贴地加入了数据存储及报告生成的功能，这在同类产品中是的。目前我们的设备已经有四十多台分别效力于国内知名的硅片生产线、器件生产线、太阳能硅片及电池片生产线以及研究所。客户对我们的反应非常好。我们的精度和稳定性相比于目前进口的手动测试仪，高出了一个档次，而价格却是竞争力的。经过多年的努力和产品的优化与设计，我们目前已经有如下几种非常成熟的产品可供您选择，这些产品都是已经经历了长期实战后的多次改进而终定型的产品。测试原理以及测试方法完全依照相应的国际半导体工业标准。所有设备均已获得多项专利。
上海星纳电子科技有限公司的工商信息
- 310227000880837
- 9131011774560241XU
- 存续（在营、开业、在册）
- 其他有限责任公司
- 2002-12-02
- 周华萍
- 50万人民币
- 2002-12-02 至 永久
- 松江市监局
- 上海漕河泾开发区松江高科技园莘砖公路518号24幢701室-1
- 电子科技领域技术咨询、技术开发、技术服务、技术转让。电子产品，通讯器材，半导体设备，电子元器件，计算机硬件，机电设备，五金交电，仪器仪表批发，电子元件组装，半导体测试设备装配。【依法须经批准的项目，经相关部门批准后方可开展经营活动】
上海星纳电子科技有限公司的商标信息
上海星纳电子科技有限公司的专利信息
| 序号 | 公布号 | 发明名称 | 公布日期 | 摘要 |
| 1 | CN201859153U | 半导体晶片测试系统预对中定位系统 | 2011.06.08 | 本实用新型涉及一种半导体晶片测试系统预对中定位系统，其中包括信号传感模块，其包括测试平台，遮挡式光电 |
| 2 | CN201859125U | 太阳能晶片无接触式表面线痕自动检测系统 | 2011.06.08 | 本实用新型提供一种太阳能晶片无接触式表面线痕自动检测系统，包括自动传送模块，测量模块，信号处理模块和 |
| 3 | CN201858959U | 半导体晶片无接触式厚度自动测量系统 | 2011.06.08 | 本实用新型提供一种半导体晶片无接触式厚度自动测试系统，包括：信号传感模块，其包括：测试平台，分别置于 |
| 4 | CN203163962U | 全自动通用太阳能晶片检测平台 | 2013.08.28 | 本实用新型提供一种全自动通用太阳能晶片检测平台，包括控制单元、设备本体、堆叠晶片上料机构、晶片输送机 |
| 5 | CN203164129U | 无接触式太阳能晶片晶体类型自动检测系统 | 2013.08.28 | 本实用新型提供一种无接触式太阳能晶片晶体类型自动检测系统，包括自动传送模块、电源模块、图像采集模块、 |
| 6 | CN203165871U | 一种无接触式晶片上料装置 | 2013.08.28 | 本实用新型提供了一种无接触式晶片上料装置，包括滑台、吸盘装置、输送皮带、活动式片盒、片盒托架、喷气嘴 |
| 7 | CN201940376U | 太阳能晶片全自动无接触式多功能测试和分选系统 | 2011.08.24 | 本实用新型公开了一种太阳能晶片全自动无接触式多功能测试和分选系统，系统包括控制中心，主传送模块，包括 |
| 8 | CN301279798S | 无接触式硅片计数系统 | 2010.07.07 | |
| 9 | CN201522995U | 硅晶片无接触式计数系统 | 2010.07.07 | 本实用新型涉及一种硅晶片无接触式计数系统，一种半导体硅晶片无接触式计数系统，包括：测量模块，测量模块 |
| 10 | CN300991195D | 自动硅片分选仪(SS603) | 2009.08.26 | |
| 11 | CN201166564Y | 太阳能晶片无接触式测试系统 | 2008.12.17 | 本实用新型涉及一种太阳能晶片无接触式测试系统，一用以承载太阳能晶片的承片台，一对探头分别测量晶片的上 |
| 12 | CN3659654D | 晶片多功能参数检测仪(MS203) | 2007.06.20 | 1.本外观设计产品由组件1机箱和组件2测试平台构成，组件1和组件2间通过信号线和控制线连接。2.组件 |
| 13 | CN3651724D | 晶片体电阻率检测仪器的探头固定架 | 2007.05.30 | 俯视图与仰视图对称，省略俯视图。 |
| 14 | CN3648826D | 晶片体电阻率检测仪器 | 2007.05.23 | 1.本外观设计产品由组件1控制柜和组件2测试平台构成。2.组件2的平台上设有抽屉A，抽屉A内放置键盘 |
| 15 | CN3645842D | 晶片多功能参数检测仪的探头固定架 | 2007.05.16 | 俯视图与仰视图对称，省略俯视图。 |
| 16 | CN3642688D | 晶片多功能参数检测仪的测试平台 | 2007.05.09 | 本外观设计产品测试平台上设有抽屉，抽屉内设有键盘和鼠标。操作时，拉开抽屉，通过键盘和鼠标输入操作指令 |
| 17 | CN3642686D | 晶片体电阻率检测仪器的测试平台 | 2007.05.09 | 本外观设计产品的平台上设有一可抽拉的抽屉A，抽屉A内放置有键盘和鼠标。 |
| 18 | CN3568625D | 晶片几何参数检测仪器(台式手动) | 2006.10.11 | 本外观设计产品由件1机柜A和件2测试平台B组成。测试平台B可放置在机柜A上，也可放置在适当的地方。 |
| 19 | CN3568626D | 手动晶片几何参数检测仪器(落地式) | 2006.10.11 | |
| 20 | CN3556432D | 硅片几何参数自动扫描检测设备 | 2006.08.30 | 仰视图无设计要点，省略仰视图。 |
| 21 | CN3556431D | 硅片几何参数自动扫描平台 | 2006.08.30 |
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